UN-GSWIR10020C

Caractéristiques du produit :

· Développé pour le format d'image 1"

· Grande ouverture, jusqu'à F1.4

· Conception compacte et légère

Caractéristiques du produit :

· Développé pour le format d'image 1"
· Longueur d'onde : 900-1700 nm
· Grande ouverture, jusqu'à F1.4
· Conception compacte et légère

For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.

· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design

For semiconductor and precision electronics manufacturing inspection and alignment, new energy lithium-ion battery defect detection, ultra-thin flat panel display surface defect inspection, and high-speed printing quality inspection.

· Developed for 72mm big frame sensor

· IR correction

· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.